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仪器名称： SOV-series
仪器名称： SOV-series
仪器名称： SOV-series
仪器名称： SOV-series
三次元影像式测量仪仪器名称： 仪器名称：SOV-series重现性：0．005mm光栅尺解析力：0．001m示值精度：4 L／150um
二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域， 在机械、 电子、仪表、 塑胶等行业被广泛使用。
二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域， 在机械、 电子、仪表、 塑胶等行业被广泛使用。
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二次元影像式测绘仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域， 在机械、 电子、仪表、 塑胶等行业被广泛使用。
二次元影像式测量仪该仪器适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域， 在机械、 电子、仪表、 塑胶等行业被广泛使用。
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荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
D65标准太阳光源，色温65000K
D65标准太阳光源，色温65000K
荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
电镀膜厚仪采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例
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